Leeb352型超聲波陶瓷測厚儀利用超聲波原理可以對任何超聲波良導體材料厚度進行測量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。leeb352超聲波測厚儀在TT100基礎上增加了背光功能,適合在光線不好的環境中進行測量。
對各種板材和加工零件作*測量;
對設備中各種管道和壓力容器進行監測;
監測使用過程中受腐蝕后的減薄程度;
廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空航天等各個領域。
Leeb352型超聲波陶瓷測厚儀功能與特點
自動校對零點:可對系統誤差進行修正
耦合提示、低電壓提示
關機方式:自動關機(無操作三分鐘后)
聲速固定:可利用已知厚度試塊測量聲速
數據存儲:可以存儲10個厚度值
帶打印??涩F場打印數據。使測量結果客觀公正。
工作原理
超聲波測厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量,當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過*測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。
Leeb352型超聲波陶瓷測厚儀技術參數
測量范圍0.8—300mm(鋼,由探頭決定)
顯示分辨率0.1mm
聲速范圍1000-9900m/s
工件表面溫度-10~+60
顯示四位液晶數字顯示
測量精度±(1%H+0.1)mm,H為實際厚度值
管材測量下限Ф20mmX3.0mm(5PФ10探頭,鋼材)
操作時間內置鋰電池,可連續工作10小時以上
外形尺寸130×70×25(mm)(主機)
重量約0.3㎏(主機)
Leeb352型超聲波陶瓷測厚儀標準配置
leeb352主機;
內置熱敏打印機
探頭:5PФ10|5PФ10/90;
內置鋰電池;
耦合劑;
隨機文件;
手提包裝箱。
可選配
超聲波測厚儀探頭;
耦合劑。